产品描述
FISCHERSCOPE® XDV®-SDD
高性能X射线荧光测试仪，配有可编程XY平台和Z轴，可自动测量超薄镀层和分析痕量元素
高级型号仪器，具有常见的所有功能
射线激发量的灵活性最大，激发量可根据测量面积大小和光谱组成而改变
通过硅漂移探测器，在 > 10万cps（每秒计数率） 的超高信号量下也可以正常工作，而不会出现能量分辨率的降低
极低的检测下限和出色的测量重复度
带有快速、可编程 XY 工作台的自动测量仪器
大容量便于操作的测量舱
测量极薄的镀层，例如应用于电子和半导体行业中
痕量分析，例如根据 RoHS、玩具标准、包装标准对有害物质进行检测
进行高精度的黄金和贵金属分析
光伏产业
测量 NiP 镀层的厚度和成分
