产品描述
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 250/252
高性能X射线荧光测量仪，配有最先进的硅漂移探测器(SDD)，可快速、无损地进行RoHS检测、材料分析和镀层厚度测量。
特点
配有4 个电动调节的准直器和6个电动调节的基本虑片
配备高分辨率硅漂移探测器 (SDD)，还适用于更复杂的多元素分析
由下至上的测量方向，可以非常简便地实现样品定位
典型应用领域
对电子和半导体行业中仅几个纳米的功能性镀层进行测量
对有害物质进行痕量分析，例如，玩具中的铅含量
在珠宝和手表业，以及在金属精炼领域，对合金进行高精度的分析
用于高校研究和工业研发领域
