产品描述
FISCHERSCOPE® XULM®
X射线荧光测试仪，可在微小样品上测量镀层厚度(包括金层测厚、银层测厚和化金厚度等)和进行材料分析
XULM镀层厚度测量仪的特点
通过组合可选的高压和滤片，可以对较薄的镀层（如50 nm Au 或 100 μm Sn）和较厚的镀层进行同样效果的测量.
配有的微聚焦管，可以测量100 μm大小的微小测量点。
比例计数器可实现数千cps（每秒计数率）的高计数率。
从下至上的射线方向，从而可以快速简便的放置样品。
底部C型开槽的大容量测量舱 。
XULM镀层厚度测量仪典型应用领域
电子行业中接插件和触点上的镀层
装饰性镀层Cr/Ni/Cu/ABS
电镀镀层，如大规模生产零件（螺栓和螺母）上的防腐蚀保护层Zn/Fe，ZnNi/Fe
珠宝和钟表工业
测量电镀液中金属成分含量，例如金层测厚、银层测厚
